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SN74BCT8374ADWR

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8374ADWR

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

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SN74BCT8374ADWR

包裝：卷帶（TR） 封裝/外殼：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） 類別：集成電路（IC） 專用邏輯器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

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SN74BCT8374ADWRE4

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SN74BCT8374ADWRE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

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SN74BCT8374ADWRG4

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SN74BCT8374ADWRE4

包裝：卷帶（TR） 封裝/外殼：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） 類別：集成電路（IC） 專用邏輯器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8374ADWRG4

包裝：管件 封裝/外殼：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） 類別：集成電路（IC） 專用邏輯器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8374A

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8374A

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8374ADW

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

TITexas Instruments

德州儀器美國德州儀器公司

SN74BCT8374ADW

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

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SN74BCT8374ANT

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

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產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號：

    SN74BCT8374ADWR

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74BCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）

  • 邏輯類型：

    掃描測試設(shè)備，帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器

  • 供電電壓：

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù)：

    8

  • 工作溫度：

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型：

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼：

    24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）

  • 供應(yīng)商器件封裝：

    24-SOIC

  • 描述：

    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

供應(yīng)商型號品牌批號封裝庫存備注價格
TEXASINSTRU
16+
原裝進(jìn)口原廠原包接受訂貨
54402
原裝現(xiàn)貨假一罰十
 詢價
TI
16+
原廠封裝
10000
全新原裝正品,代理優(yōu)勢渠道供應(yīng),歡迎來電咨詢
 詢價
TexasInstruments
18+
ICSCANTESTDEVICEW/FF24-S
6800
公司原裝現(xiàn)貨/歡迎來電咨詢!
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Texas Instruments
21+
24-SOIC
56200
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500000
萬三科技,秉承原裝,購芯無憂
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24SOIC
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原廠渠道,現(xiàn)貨配單
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24SOIC
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公司只售原裝,支持實單
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SN74BCT8374ADWR
1823
1823
詢價
TI/德州儀器
23+
24-SOIC
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只做原裝現(xiàn)貨/實單可談/支持含稅拆樣
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更多SN74BCT8374ADWR供應(yīng)商 更新時間2024-11-5 13:30:00

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