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SN74BCT8374ADWR集成電路（IC）的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74BCT8374ADWR
廠商型號

SN74BCT8374ADWR
參數屬性

SN74BCT8374ADWR 封裝/外殼為24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）；包裝為卷帶（TR）；類別為集成電路（IC）的專用邏輯器件；產品描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
封裝外殼

24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）
文件大小

474.07 Kbytes
頁面數量

26 頁
生產廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡稱

TI【德州儀器】

中文名稱

美國德州儀器公司官網
原廠標識
數據手冊

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更新時間

2025-1-30 23:00:00

產品屬性

  • 產品編號：

    SN74BCT8374ADWR

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74BCT

  • 包裝：

    卷帶（TR）

  • 邏輯類型：

    掃描測試設備，帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器

  • 供電電壓：

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數：

    8

  • 工作溫度：

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型：

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼：

    24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）

  • 供應商器件封裝：

    24-SOIC

  • 描述：

    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

供應商 型號 品牌 批號 封裝 庫存 備注 價格
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