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ZSSC4165BE1C_集成電路（IC） 傳感器檢測(cè)器接口-IDT, Integrated Device Technology Inc

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原廠料號(hào)：ZSSC4165BE1C品牌：IDT, Integrated Device Technology Inc

資料說明：DICE (WAFER SAWN) - FRAME

ZSSC4165BE1C是集成電路（IC） > 傳感器和檢測(cè)器接口。制造商IDT, Integrated Device Technology Inc生產(chǎn)封裝的ZSSC4165BE1C傳感器和檢測(cè)器接口該系列產(chǎn)品可執(zhí)行信號(hào)調(diào)節(jié)、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、激勵(lì)生成和/或各種將傳感器或變送器機(jī)構(gòu)連接到主機(jī)設(shè)備所需的其他功能。示例包括用于 CCD 圖像傳感器的控制器、用于 4-20 mA 接口和類似應(yīng)用的電流變送器、超聲變送器前端、惠斯通電橋接口等。

  • 芯片型號(hào)：

    zssc4165be1c

  • 規(guī)格書：

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  • 資料說明：

    DICE (WAFER SAWN) - FRAME

產(chǎn)品屬性

  • 類型

    描述

  • 產(chǎn)品編號(hào)：

    ZSSC4165BE1C

  • 制造商：

    IDT, Integrated Device Technology Inc

  • 類別：

    集成電路（IC） > 傳感器和檢測(cè)器接口

  • 包裝：

    托盤

  • 描述：

    DICE (WAFER SAWN) - FRAME

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫(kù)存 備注 價(jià)格
IDT, Integrated Device Technol
24+
NA
25000
in stock接口IC-原裝正品
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IDT Integrated Device Technol
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