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ZSSC3015NE1C集成電路（IC）的傳感器檢測器接口規(guī)格書PDF中文資料
| 廠商型號 |
ZSSC3015NE1C |
| 參數(shù)屬性 | ZSSC3015NE1C 包裝為管件；類別為集成電路（IC）的傳感器檢測器接口；產(chǎn)品描述：DICE (WAFER SAWN) - FRAME |
| 功能描述 | Sensor Signal Conditioner with Diagnostics |
| 文件大小 |
508.66 Kbytes |
| 頁面數(shù)量 |
48 頁 |
| 生產(chǎn)廠商 | Integrated Device Technology, Inc. |
| 企業(yè)簡稱 |
IDT |
| 中文名稱 | Integrated Device Technology, Inc.官網(wǎng) |
| 原廠標識 |  |
| 數(shù)據(jù)手冊 | |
| 更新時間 | 2025-1-26 8:00:00 |
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)品編號：
ZSSC3015NE1C
- 制造商：
IDT, Integrated Device Technology Inc
- 類別：
集成電路（IC） > 傳感器和檢測器接口
- 包裝：
管件
- 描述：
DICE (WAFER SAWN) - FRAME
| 供應(yīng)商 | 型號 | 品牌 | 批號 | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價格 |
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