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SN74LVTH182512集成電路（IC）的專用邏輯器件規(guī)格書PDF中文資料

SN74LVTH182512
廠商型號(hào)

SN74LVTH182512
參數(shù)屬性

SN74LVTH182512 封裝/外殼為64-TFSOP（0.240"，6.10mm 寬）；包裝為卷帶（TR）剪切帶（CT）Digi-Reel? 得捷定制卷帶；類別為集成電路（IC）的專用邏輯器件；產(chǎn)品描述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
功能描述

3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
文件大小

562.71 Kbytes
頁面數(shù)量

36 頁
生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡稱

TI【德州儀器】

中文名稱

美國德州儀器公司官網(wǎng)
原廠標(biāo)識(shí)
數(shù)據(jù)手冊

下載地址一下載地址二到原廠下載
更新時(shí)間

2024-12-29 17:14:00

產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號(hào)：

    SN74LVTH182512DGGR

  • 制造商：

    Texas Instruments

  • 類別：

    集成電路（IC） > 專用邏輯器件

  • 系列：

    74LVTH

  • 包裝：

    卷帶（TR）剪切帶（CT）Digi-Reel? 得捷定制卷帶

  • 邏輯類型：

    ABT 掃描測試設(shè)備，帶通用總線收發(fā)器

  • 供電電壓：

    2.7V ~ 3.6V

  • 位數(shù)：

    18

  • 工作溫度：

    -40°C ~ 85°C

  • 安裝類型：

    表面貼裝型

  • 封裝/外殼：

    64-TFSOP（0.240"，6.10mm 寬）

  • 供應(yīng)商器件封裝：

    64-TSSOP

  • 描述：

    IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫存 備注 價(jià)格
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