SN74BCT8373ADW_集成電路（IC） 專用邏輯器件-德州儀器

原廠料號：SN74BCT8373ADW品牌：Texas Instruments

資料說明：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

SN74BCT8373ADW是集成電路（IC） > 專用邏輯器件。制造商TI1/德州儀器生產(chǎn)封裝24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）的SN74BCT8373ADW專用邏輯器件專用邏輯 IC 設(shè)計提供應(yīng)用特定的邏輯輸出類型，例如 BCD 速率倍增、可尋址掃描端口、總線終端陣列、CML 驅(qū)動器、比較器、ABT 掃描測試、二進(jìn)制全加法器、互補(bǔ)對加逆變器、可配置緩沖器、觸點(diǎn)顫動消除器、晶體振蕩器、延遲元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收發(fā)器、存儲器解碼器、電源良好檢測器和分頻器。

• 芯片型號：

  sn74bct8373adw

• 規(guī)格書：

  原廠下載 下載

• 企業(yè)簡稱：

  TI1【德州儀器】詳情

• 廠商全稱：

  Texas Instruments

• 資料說明：

  IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC