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SN74BCT8244ANT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

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包裝:卷帶(TR) 封裝/外殼:24-DIP(0.300",7.62mm) 類別:集成電路(IC) 專用邏輯器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

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包裝:卷帶(TR) 封裝/外殼:24-DIP(0.300",7.62mm) 類別:集成電路(IC) 專用邏輯器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

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產(chǎn)品屬性

  • 產(chǎn)品編號(hào):

    SN74BCT8244ANT

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 類別:

    集成電路(IC) > 專用邏輯器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包裝:

    卷帶(TR)

  • 邏輯類型:

    掃描測(cè)試設(shè)備,帶緩沖器

  • 供電電壓:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位數(shù):

    8

  • 工作溫度:

    0°C ~ 70°C

  • 安裝類型:

    通孔

  • 封裝/外殼:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供應(yīng)商器件封裝:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

供應(yīng)商型號(hào)品牌批號(hào)封裝庫(kù)存備注價(jià)格
Texas Instruments
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更多SN74BCT8244ANT供應(yīng)商 更新時(shí)間2024-11-5 19:53:00