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5095_測(cè)試與計(jì)量 測(cè)試點(diǎn)-KEYSTONE

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原廠料號(hào)：5095品牌：Keystone Electronics

資料說明：SM TEST POINT ON T\u0026R - COMPACT

5095是測(cè)試與計(jì)量 > 測(cè)試點(diǎn)。制造商KEYSTONE/Keystone Electronics Corp.生產(chǎn)封裝的5095測(cè)試點(diǎn)測(cè)試點(diǎn)專門用于在測(cè)試設(shè)備和電路之間提供電氣連接。PC 測(cè)試點(diǎn)的類型有：插孔、小型、大尺寸、環(huán)形、小尺寸、迷你型、多用途、R/A（直角）、R/A 雙環(huán)、開槽和標(biāo)準(zhǔn)鉤，高度為 0.045" (1.15mm) 至 1.312" (33.33mm)。

  • 芯片型號(hào)：

    5095

  • 規(guī)格書：

    下載

  • 企業(yè)簡(jiǎn)稱：

    KEYSTONE詳情

  • 廠商全稱：

    Keystone Electronics Corp.

  • 資料說明：

    SM TEST POINT ON T\u0026R - COMPACT

產(chǎn)品屬性

  • 類型

    描述

  • 產(chǎn)品編號(hào)：

    5095

  • 制造商：

    Keystone Electronics

  • 類別：

    測(cè)試與計(jì)量 > 測(cè)試點(diǎn)

  • 包裝：

    散裝

  • 類型：

    PC 測(cè)試點(diǎn) - 小型

  • 安裝類型：

    表面貼裝型

  • 大小 / 尺寸：

    0.150" 長(zhǎng) x 0.112" 寬（3.81mm x 2.84mm）

  • 高度：

    0.090"（2.29mm）

  • 鍍層：

    錫

  • 材料 - 絕緣：

    無絕緣

  • 材料 - 基體：

    磷青銅

  • 描述：

    SM TEST POINT ON T\u0026R - COMPACT

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